Dags för Tillförlitlighet 2010

Tillförlitlighet 2010 baseras i huvudsak på de 300 kretskort som producerades på mässan S.E.E. i april 2010. Under en intensiv dag hålls en detaljerad genomgång, batch för batch. Frågeställningar är bland annat: inverkan av paddens storlek, olika lödpastor och olika appliceringar, olika omsmältningsmetoder samt förekomsten av voids i QFN och BGA-kapslar. Bland föreläsarna möter du Göran Wetter, Swerea/IVF, Lars-Gunnar Klang, LGK Konsult och Lars Wallin, LOWEK.