SEK: Grafen kräver nya regler och standarder

Ett arbete med en teknisk specifikation, en provisorisk standard, för utvärdering av antal grafenlager föreslås i serien IEC 62607 med internationella standarder för nyckelparametrar i processer för tillverkning av nanobaserade komponenter. Den föreslagna delen skulle få beteckningen IEC 62607-6-2. Förslaget, med beteckningen IEC 113/330/NP, är ute på omröstning till den 28 oktober 2016. Flera delar i serien är redan på gång och en IEC TS 62607-6-4 med en metod för konduktansmätning av grafenskikt med hjälp av resonanskavitet ska bli klar inom kort. Ett annat aktuellt projektförslag gäller provning vid olika temperatur och luftfuktighet för att bestämma funktionssäkerheten hos grafenbaserade komponenter. Det handlar om en metod att prova om komponenten uppfyller angivna minimikrav vad gäller lagring vid låg och hög temperatur och att den klarar av att utsättas för temperaturändringar och hög luftfuktighet. Den föreslagna standarden är tänkt att ingå som en del -3-1 i serien IEC 62876 med internationella standarder med metoder för bedömning av tillförlitligheten hos komponenter som utnyttjar nanoteknik. Förslaget, betecknat IEC 113/331/NP, är ute på omröstning till den 4 november 2016. Svenska företag, organisationer, universitet och myndigheter som vill bidra i arbetet med dessa standarder deltar genom den svenska spegelkommittén, SEK TK 113, Nanoteknik inom det elektrotekniska området, inom SEK Svensk Elstandard.