Annons
Annons
Annons
Annons
Annons
Annons
Annons
Annons
Test & Mät | 27 oktober 2010

AST-test skakade loss

Komponenter skakades av kretskort med AST-test.

På Tillförlitlighet 2010 i Älvsjö i går redogjorde Jan Gildorf för hur AST-test går till. AST står för accelerated stress test och nog stressas korten alltid. Gildorf visade ett rack där 8 kort hade spänts fast och sedan kopplats till en utrustning för funktionskontroll under testets gång. Korten hade därefter skakats, vibrerats och böjts av testutustningen ända tills de gick sönder. Tanken är inte att få ett absolutvärde, utan att få en jämförande test för att utvärdera kort producerade med olika teknik. De komponenter som först föll ur på testkorten var QFP304-kapslar (635 cykler) och därefter BGA1156 (från 993 cykler). På bilder från testet kunde komponenter ses som lossnat fysiskt från korten. Mindre komponenter klarade sig inte oväntat betydligt bättre. Klicka på länken nedan för bilder från Tillförlitlighet 2010.
Annons
Annons
Annons
Annons
Visa fler nyheter
2019-09-15 20:56 V14.3.11-1