Johan Olsson: ”Modulära, skalbara testsystem".

– Titeln som jag valde på mitt föredrag kan syfta på flera olika saker. Jag tänkte ta det ur ett konkret perspektiv: Säg att någon ska bygga ett testsystem, då finns det också behov av att anpassa instrumenten därefter. Under projektets gång kan det sedan hända att saker förändras, behov växer eller funktionaliteten omdefinieras. Då handlar det om att ha en plattform som man kan växa med, säger föredragshållaren Johan Olsson. – Det kan också handla om att man initialt vill ha ett skräddarsytt system som passar just det behov man har. Att arbeta modulärt innebär att man själv kan definiera funktionaliteten. På så sätt kan man få ett skräddarsytt system istället för att köpa in utrustning som egentligen inte svarar mot de behov man har utan där det egentligen är en delfunktionalitet man är ute efter. National Instruments erbjuder många olika lösningar för test- och mätsystem. En del av dessa baserar sig på s.k. C Series-moduler. De ger hög flexibilitet och möjlighet att skapa applikationer som är skalbara med avseende på programvara, mät- och styrfunktionalitet såväl som på val av databuss. Under föredraget blir det information om bland annat uppbyggnad, mät- och styrmöjligheter, prestanda samt användningsområden. Vill du veta mer om mässan, besök då ElektronikExpos hemsida