Annons
Annons
Annons
Annons
Annons
Annons
Elektronikproduktion | 15 april 2011

Johan Olsson: ”Modulära, skalbara testsystem".

Johan Olsson kommer från National Instruments Sweden AB för att tala om hur modulärt uppbygga testsystem ger ökad prestanda, kostnadseffektivitet och möjlighet att skräddarsy efter behov.
– Titeln som jag valde på mitt föredrag kan syfta på flera olika saker. Jag tänkte ta det ur ett konkret perspektiv: Säg att någon ska bygga ett testsystem, då finns det också behov av att anpassa instrumenten därefter. Under projektets gång kan det sedan hända att saker förändras, behov växer eller funktionaliteten omdefinieras. Då handlar det om att ha en plattform som man kan växa med, säger föredragshållaren Johan Olsson.

– Det kan också handla om att man initialt vill ha ett skräddarsytt system som passar just det behov man har. Att arbeta modulärt innebär att man själv kan definiera funktionaliteten. På så sätt kan man få ett skräddarsytt system istället för att köpa in utrustning som egentligen inte svarar mot de behov man har utan där det egentligen är en delfunktionalitet man är ute efter.

National Instruments erbjuder många olika lösningar för test- och mätsystem. En del av dessa baserar sig på s.k. C Series-moduler. De ger hög flexibilitet och möjlighet att skapa applikationer som är skalbara med avseende på programvara, mät- och styrfunktionalitet såväl som på val av databuss. Under föredraget blir det information om bland annat uppbyggnad, mät- och styrmöjligheter, prestanda samt användningsområden.

Vill du veta mer om mässan, besök då ElektronikExpos hemsida

Kommentarer

Vänligen notera följande: Kritiska kommentarer är tillåtna och till och med uppmuntrade. Diskussioner är välkomna. Verbala övergrepp, förolämpningar, rasistiska och homofobiska kommentarer är inte tillåtna och sådana inlägg kommer att raderas.
Visa fler nyheter
2018-04-21 15:38 V9.3.2-1