Annons
Annons
© Sivers Semiconductors Komponenter | 09 december 2021

Sivers Wireless testar krets hos Rohde & Schwartz

Sivers Semiconductors meddelar att ett samarbete mellan dotterbolaget Sivers Wireless och Rohde & Schwarz har lett till ”framgångsrika tester” av prestandan hos halvledarbolagets integrerade RF-millimetervågskrets, TRXBF01.

TRXBF01, som stödjer upp till 128QAM enkel bärvågsmodulering över hela frekvensområdet 57-71GHz, uppges ha testats framgångsrikt med både 802.11ay och den nya 3GPP-releasen 17 5G-NR-U-moduleringar upp till 64QAM. Det framgår av ett pressmeddelande. – Detta har varit en värdefull möjlighet för Sivers Semiconductors att kunna ge ytterligare ett bevis på vår världsledande millimetervågsteknik. Tillsammans med Rohde & Schwarz har vi visat att den höga prestandan hos våra millimetervåg-RFIC-chip möjliggör en väg för framtida NR-U-utrullningar i 60 GHz-bandet baserat på den kommande 3GPP Release 17-standarden. Tidig tillgång till test- och mätlösningar som kan hantera nya och kommande standarder som 5G NR i 60 GHz-bandet är avgörande för vår mission att ligga i framkant av teknikutvecklingen, säger Erik Öjefors, Chief Technology Officer hos Sivers Wireless, i pressmeddelandet. Testet utfördes hos Rohde & Schwarz i München. För de gemensamma testinsatserna tillhandahöll Sivers Semiconductors ett utvärderingskit (EVK) som enhet under test (DUT), driven av RFIC:n TRXBF01 och RF-antennmodulen BFM06010. – Tillsammans med Sivers Semiconductors sätter vi ytterligare en milstolpe för den trådlösa industrin. Med våra innovativa test- och mätlösningar verifierar vi nya funktioner inom 5G New Radio-standarden, vilket visar vårt kontinuerliga engagemang för våra partners och kunder. Genom detta gör vi det möjligt för dem att utveckla banbrytande teknik som kommer att göra avancerade 5G-användarfall för konsumenter och företag till verklighet, säger Andreas Pauly, Executive Vice President Test & Measurement på Rohde & Schwarz, i pressmeddelandet.
2022-06-21 15:19 V20.6.1-2