RISE utvecklar mätinstrument med grafen
Svenska RISE har, tillsammans med det kanadensiska mätteknikbolaget Measurements International (MI), siktet inställt på att ta fram ett helt nytt och unikt mätinstrument som innehåller grafenchip.
Målsättningen för forskningsinstitutet och innovationspartnern är att kunna presentera detta nya mätinstrument inom bara några år. Mer precist handlar det om ett kompakt, portabelt och användarvänligt mätinstrument med chip av materialet grafen. Något som skulle kunna ge elektronikindustrin möjlighet att själva utföra noggrannare och säkrare kalibreringar av sina instrument.
– Att kunna mäta korrekt är grunden för all form av teknikutveckling. En utmaning för industrin är dock att de ofta först måste skicka sina instrument till nationella laboratorium för att de ska kunna kalibreras med hög noggrannhet, förklarar Hans He, forskare på RISE och expert inom området grafen och nanovetenskap i ett pressmeddelande.
Om du ska kunna lita på att ditt mätinstrument faktiskt visar korrekta siffror måste det kalibreras, annars går det helt enkelt inte att lita på mätdata. För att olika krav på säkerhet och kvalitet ska uppfyllas behöver därmed många företag utföra så kallade ”ackrediterade kalibreringar” – vilket kräver att ett laboratorium, vars kalibrering är ackrediterad av ett oberoende ackrediteringsorgan, utför arbetet.
– Först efter att ett ackrediterat laboratorium och/eller vi på RISE, som är nationellt mättekniskt institut, kontrol- lerat instrumentet mot primärnormalerna, det vill säga de noggrannaste värdena som all kalibrering kan spåras till, kan de utföra kalibreringen själva. Eftersom detta sker i flera steg skapar det osäkerhet kring om mätvärdena verkligen blir korrekta, förklarar Hans.
Nu inleder Hans He och RISE ett samarbete med det kanadensiska bolaget Measurements International (MI), som erbjuder mättekniska instrument och tjänster. Deras produkter används bland annat av metrologiinstitut som amerikanska NIST och Schweiziska METAS, men även av stora bolag och myndigheter som NASA, Lockheed Martin och Siemens.
Steg ett i detta samarbetet är att ta fram en prototyp för ett helt nytt instrument, ett instrument som industrin själva kan använda för att kalibrera mot en grupp primära resistansnormaler med olika resistansvärden, så kallade arrayer av grafen.
– MI vill satsa stort på att använda det tvådimensionella materialet grafen eftersom det har elektroniska egen- skaper som gör resistansmätningarna både mer effektiva och mer exakta. Eftersom vi på RISE har unik expertis inom just grafen och resistansstandarder kommer vårt samarbete göra att vi kan ta fram en avancerad, men användarvänlig produkt och nå ut till relevanta kunder, som kanske främst kommer finnas inom industrin, säger Hans.
Målet med samarbetet är alltså en kompakt och portabel mätprodukt, utvecklad av RISE i tandem med MI. Detta skulle kunna effektivisera arbetet inom teknikindustrin och bidra till att de slipper använda sig av mellanhänder.
– Vi är väldigt glada över vårt samarbete med RISE. Tillsammans kommer vi kunna utveckla en produkt som är helt unik på marknaden och nå ut till fler med den allra senaste tekniken. Ett komplett och kompakt mätsystem med materialet grafen som grund, säger Alessio Pollarolo, vice president på MI:s utvecklingsavdelning Measurement Science.
